Kapasitif Ölçme metodu ile düzgünsüzlük tayini
  • Kapasitif Ölçme metodu ile düzgünsüzlük tayini
    Kapasitif Ölçme metodu ile düzgünsüzlük tayini

     

     

     

    Bu deneyin amacı, hammadde, teçhizat, işçilik, çalışma metodu dolayısıyla iplik üretilirken iplikte meydana gelen, gözle görülüp değerlendirilebilen görünümü bozan kısımların kapasitif ölçme yöntemine göre belirlenmesidir (Kütledeki değişime göre). İplikte düzgünsüzlük kaliteyi etkileyen en önemli faktörlerden biridir. İplikte düzgünsüzlük; işlenme, kullanım ve diğer özellikleri etkiler. Düzgünsüzlük; gerek incelik ve numara, gerekse diğer yapısal özellikler açısından iplik boyunca meydana gelen değer sapmalarını tanımlar. % U (ortalama sapma yüzdesi) ve % CV (değişim katsayısı) olarak iki şekilde ifade edilmektedir. Prensip olarak birbirinden belli mesafede tutulan iki paralel levha materyalin (iplik) geçişi arasında oluşan elektrik alanı yardımı ile üzerindeki dalgalanmaların kütlesel olarak ölçülmesi esasına dayanır.

    İplikteki düzgünsüzlükler iplik mukavemetinin düşmesine ince, kalın noktaların oluşmasına ve bu iplikle oluşan kumaşların boyanmasında abraj hatalarına sebep olmaktadır.( ISO 16549 )

     

    Numune Hazırlama

     

    Kapasitif ölçme metodu ile düzgünsüzlük tayini için numune sayısı 10 olarak belirlenmiştir.Her bir numune için test sayısı ise 1’dir. Deney numuneleri veya parçaları, deney için standart atmosfer şartları dengeye erişinceye kadar 24 saat kondisyonlanır.

    Deney standart atmosfer şartlarında yapılmalıdır.

     

    Deneyin Yapılması

     

    Hazırlanan iplik numuneleri cihaz üzerindeki rehberden, gerilim ayarlayıcı ve kondansatörler arasından geçirilip emme ağzına verilir. Cihaz çalıştırılır.Ölçümü yapılacak iplik değerlerine göre ayarlamalar yapılır. Deney için; ölçüm aralığı

    (Kesikli liflerden oluşan materyallerde 4 tex – 80 ktex'dir. Filamentlerde 7 tex – 3000 tex

    Kadardır), ölçüm hızı (25, 50, 100, 200, 400 m/dak'dır, filamentler için 800 m/dak’dır) test süresi (1, 2, 5, 10 veya 20 dakikadır), ölçümü yapılacak ipliğin numarasına göre kondansatör plakası aralığı (12 mm – 0,2 mm genişlik ve 20 mm – 8 mm yükseklik), istenen sonuçlar gibi bilgiler bilgisayardan seçilir.Test tamamlandıktan sonra aşağıdaki sonuçlar bilgisayar ekranında görüntülenebilir ve yazdırılabilir.

     

    Ekran ve Yazıcıdan Alınan Değerler

     

    *** Düzgünsüzlük (% U)

    *** Varyasyon katsayısı (% CV)

    *** Varyasyon katsayısı (CV(L))

    *** Sık- sık oluşan hatalar

    *** İnce yer:-%30, -%40, -%50

    *** Kalın yer:+%35, +%50, +%70, +%100

    *** Neps:+%140, +%200, +%280, +%400

     

    Ekran ve Yazıcıdan Alınan Grafiksel Değerler

     

    *** Normal Diyagram

    *** Ortalama Değer Varyasyonları

    *** Spektrogram

    *** Üç boyutlu Spektrogram

    *** Uzunluk Değişim Eğrileri

    *** Üç Boyutlu Uzunluk Değişim Eğrileri

    *** Kütle Yoğunluk Diyagramı

     

    Test sonucunda iplik düzgünsüzlüğü; düzgünsüzlük (%U) ve değişim katsayısı (%CV) olarak ifade edilebilir. Bu sayısal değerler, tüm dünyadan alınan ölçüm sonuçlarına göre hazırlanmış istatistiklerle (Uster istatistikleri) karşılaştırılır.İplik kalite kontrolünde ayrıca iplikteki ince ve kalın yerler, neps değerleri ve iplik tüylülüğü tespit edilir. Elde edilen değerler standartlarla karşılaştırılarak, fitil veya bantların kalitesi belirlenmiş olur.

    Kapasitif Ölçme metodu ile düzgünsüzlük tayini
    Yazan Salı, 24 Mayıs 2016 09:05 in Kalite Kontrol Okunma 1190 defa